| Module | Title | LV Type | CP | LV | Dates | Examination |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Compound Semiconductors: Electronic, Photonic and Application | Compound Semiconductors: Electronics, Photonics and Application | Fach-/Modulprüfung | 5 | 475418 | ||
| Compound Semiconductors: Electronics, Photonics and Application (ehemals III-V-Halbleiter 2) | Vorlesung | 471307 | Mo 08:30-10:00 WSH S1 (4243|104) (×11) | |||
| Compound Semiconductors: Electronics, Photonics and Application (ehemals III-V-Halbleiter 2) | Übung | 472119 | Mo 10:00-10:45 WSH S1 (4243|104) (×12) | |||
| Compound Semiconductors: Physics, Technology and Application | Compound Semiconductors: Physics, Technology and Application | Fach-/Modulprüfung | 5 | 476739 | ||
| Fundamentals of Organic Electronics and Optoelectronics - Technology and Applications | Fundamentals of Organic Electronics and Optoelectronics: Technology and Applications | Fach-/Modulprüfung | 5 | 477068 | ||
| GaN: Material, Technology and Devices | GaN: Material, Technologie und Bauelemente | Fach-/Modulprüfung | 5 | 475952 | ||
| GaN: Material, Technology and Devices | Vorlesung/Übung | 479193 | Di 10:00-12:15 WSH S2 (4243|102) (×13) | |||
| Manufacturing Processes for Silicon Based Microsystems | Herstellungsprozesse für siliziumbasierte Mikrosysteme | Fach-/Modulprüfung | 5 | 477438 | ||
| Herstellungsprozesse für siliziumbasierte Mikrosysteme | Vorlesung | 472406 | Fr 08:30-10:00 BS 218 (2130|218) (×13) | |||
| Herstellungsprozesse für siliziumbasierte Mikrosysteme | Übung | 472594 | Fr 10:15-11:00 BS 218 (2130|218) (×13) | |||
| Oxide Thin Films for Information Technology: Growth and Analysis | Oxidische Dünnschichten für die Informationstechnik: Herstellungsverfahren und Charakterisierungsmethoden | Fach-/Modulprüfung | 5 | 478717 | ||
| Oxidische Dünnschichten für die Informationstechnik: Herstellungsverfahren und Charakterisierungsmethoden | Übung | 472831 | Do 15:30-16:00 WSH S1 (4243|104) (×12) | |||
| Oxidische Dünnschichten für die Informationstechnik: Herstellungsverfahren und Charakterisierungsmethoden | Vorlesung | 473270 | Do 14:00-15:30 WSH S1 (4243|104) (×12) | |||
| Oxide Thin Films for Information Technology: Materials and Properties | Oxidische Dünnschichten für die Informationstechnik: Materialien und Eigenschaften | Fach-/Modulprüfung | 5 | 476179 | ||
| Photovoltaic 2 - Characterization of Solar Cells | Photovoltaik 2 - Charakterisierung von Solarzellen | Vorlesung/Übung | 471121 | |||
| Sensors | Sensoren | Fach-/Modulprüfung | 5 | 477439 | ||
| Sensoren | Übung | 472428 | Fr 14:15-15:00 38 A 2 (5381|U103) (×13) | |||
| Sensoren | Vorlesung | 472787 | Fr 09:00-13:00 WSH S1 (4243|104) (×1) Fr 12:30-14:00 38 A 2 (5381|U103) (×13) |